|
Metrologie a hodnocení procesů Publikace pojednává o teoretických problémech měření. V úvodu je přehled charakteristik náhodných procesů. Následuje pohled na procesy měření se zaměřením i na statistický výběr a hodnocení vzorků. Čtenář získá přehled o řešení chyb a nejistot, které jsou nezbytným doplňkem při zpracování výsledků měření. Jsou zde též uvedeny hlavní principy, které se používají při návrhu, měření a vyhodnocení experimentů. Publikace zorientuje čtenáře také v oblasti legální i praktické metrologie. autor Tůmová Olga
vydal / výrobce BEN - technická
literatura
rozsah / vazba 232 stran B5 / brožovaná V2
vydání 1. české
běžná cena 255,00 Kč
Stručný obsah
1.Obecné a teoretické problémy měření
2.Základní charakteristiky náhodných procesů
3.Metrologie - věda o měření
4.Chyby a nejistoty měření
5.Teorie a vyhodnocování experimentů
6.Statistické řízení kvality procesů
7.Měřicí procesy a jejich analýza
Keywords
obecná charakteristika
- Metrologie, metronomie, kalibrace
obsah knihy
- Obecné a teoretické problémy měření, Signál a informace, Měření a
neurčitost, Model procesu měření a měřicího systému, Základní úlohy měření,
Základní charakteristiky náhodných procesů, Distribuční funkce, Hustota
pravděpodobnosti, Momenty obecné, Momenty centrální, Momenty normované,
Charakteristiky spojitých rozdělení, Normální (Laplace-Gaussovo) rozdělení,
Normované normální rozdělení, Rovnoměrné rozdělení spojité,
Logaritmicko-normální rozdělení, Exponenciální rozdělení, Dvojitě
exponenciální (Laplace) rozdělení, Weibullovo rozdělení, Rayleighovo
rozdělení, Rozdělení gama, Rozdělení, Rozdělení beta, Rozdělení t
(Studentovo), Rozdělení F (Fisherovo-Snedecorovo), Cauchyho rozdělení,
Maxwellovo rozdělení, Paretovo rozdělení, Charakteristiky diskrétních
rozdělení, Binomické rozdělení, Alternativní (Bernoulliho) rozdělení,
Negativní binomické rozdělení, Geometrické rozdělení, Poissonovo rozdělení,
Hypergeometrické rozdělení, Rovnoměrné diskrétní rozdělení, Metrologie – věda
o měření, Členění metrologie, Organizace působící v oblasti metrologie ČR a
jejich hlavní úkoly, Legislativní a technické dokumenty v metrologii, Zákony,
Vyhlášky Ministerstva průmyslu a obchodu, Normy ČSN z oblasti metrologie,
Nařízení vlády, Rezortní předpisy z oblasti metrologie, Terminologie v
metrologii, Metrologie a řízení kvality ve výrobním procesu a službách, Zákony
a nařízení vlády, Normy ČSN pro zabezpečování kvality, Normy řady ISO 9000,
Další související normy, Podniková metrologie, Metrologická pracoviště,
Povinnosti pracovníků a odborných útvarů, Veličiny a jednotky, Fyzikální
veličiny, Technické veličiny, Měřicí metody, Principy etalonáže, Základní
pojmy, Návaznost etalonů a měřidel, Etalonáž základních jednotek SI soustavy,
Etalonáž délky, Etalonáž hmotnosti, Etalonáž času, Etalonáž elektrických
veličin, Etalonáž teploty, Etalonáž svítivosti, Ověřování a kalibrace měřidel,
Ověřování měřidel, Kalibrace měřidel, Chyby a nejistoty měření, Přesnost
měření a měřicích přístrojů, Rozdělení chyb podle příčiny vzniku, Rozdělení
chyb podle zdrojů, Rozdělení chyb podle způsobu výskytu, Vyhodnocení náhodných
chyb, Chyby měření, Chyby naměřených hodnot, Chyby přímých měření, Chyby
nepřímých měření, Výsledky opakovaných měření, Měřicí přístroje analogové a
digitální, Chyby analogových přístrojů, Chyby digitálních přístrojů, Ostatní
elektrické měřicí přístroje, Nejistoty měření, Standardní nejistota uA,
Standardní nejistota uB, Kombinovaná standardní nejistota – uC, Rozšířená
(celková) standardní nejistota – U, Závěr, Teorie a vyhodnocování experimentů,
Průzkumová analýza dat, Určování odlehlých hodnot, Test ±4s, Test Dixonův,
Test Grubbsův (při neznámé směrodatné odchylce), Test při známé směrodatné
odchylce, Test David-Hartleyho, Test Shapiro-Wilksův, Statistické
charakteristiky, Charakteristiky polohy, Charakteristiky variability,
Charakteristiky šikmosti, Charakteristiky špičatosti, Problematika malých
výběrů, Testování hypotéz, Testy významnosti, Testy hypotéz pro parametry µ a
s2 normálního rozdělení N (µ, s2) jednoho souboru, Testy hypotéz o
rovnoměrnosti parametrů normálního rozdělení N (µ, s2) dvou souborů, Testy
parametrů více než dvou souborů, Tvorba experimentů, Faktorová organizace
pokusů, Jednofaktorový experiment, Dvoufaktorový experiment, Třífaktorový
experiment, Přehled dalších typů experimentů, Analýza rozptylu, Analýza
rozptylu – jednofaktorový experiment, Analýza rozptylu – dvoufaktorový
experiment, Analýza rozptylu – třífaktorový experiment, Metody mnohonásobných
porovnávání, Scheffého metoda, Tukeyova metoda, Opakovatelnost a
reprodukovatelnost měření v laboratořích, Statistické řízení kvality procesů,
Charakteristika a princip statistické regulace, Typy regulačních diagramů,
Shewhartovy regulační diagramy, Regulační diagramy pro aritmetický průměr s
výstražnými mezemi, Přejímací regulační diagramy, Diagramy CUSUM, Hodnocení
způsobilosti a výkonnosti procesů, Ukazatel způsobilosti PCI , Ukazatelé
způsobilosti Cp, Cpk a Cpm, Ukazatelé výkonnosti Pp a Ppk, Bootstrapping a
konfidenční intervaly, Měřicí procesy a jejich analýza, Systém managementu
měření, Proces měření, Měřicí a zkušební zařízení (M&TE), Metrologická
konfirmace, Požadavky, Analýza systému měření, Základní pojmy a
charakteristiky, Kombinované charakteristiky
rejstřík knihy
- akreditace, ampér, analýza dimenzionální průzkumová rozptylu, systému
měření, teoretická, apobetika, autorizace, autorizovaná metrologická
střediska, bit, bootstrapping, candela, celková chyba měření, centil,
certifikace, certifikovaný referenční materiál, c-diagram, čas atomový
efemeridní světový, světový koordinovaný, čtverec latinský řeckolatinský,
decil, délka, diagram CUSUM přejímací regulační Shewhartův regulační,
distribuční funkce, DOE design of experiments, etalon cestovní mezinárodní
pracovní primární referenční samostatný sekundární skupinový státní
transferový, evidence, experiment aktivní dílčí faktorový dvoufaktorový
dvouúrovňový extrémní jednofaktorový navrhování pasivní přípravný sekvenční
třífaktorový tříúrovňový, faktor šumový, fuzzy, graf krabicový kvantilový
kvantil-kvantilový P – P pravděpodobnostní Q – Q rankitový vrubový, GRR,
hierarchický návrh, hmotnost, homogenita, hustota pravděpodobnosti, hypotéza
alternativní nulová, charakteristika polohy šikmosti špičatosti variability,
chyba absolutní členů čtení experimentální hrubá krajní maximální dovolená
měření měřicího přístroje metody, náhodná, nepřímého měření, pravděpodobná,
prostá, přídavná, přímého měření, relativní, reziduální, střední kvadratická,
systematická, základní, 1. druhu, 2. druhu, informace, informační entropie,
informační řetězec, interakce, interval kalibrace etalonu konfidenční,
jakostní znak, kalibrace, kalibrační postup, kelvin, kilogram, klasifikace
měřidel, koeficient, korelace, rozšíření, variační, korekce (oprava), kritický
obor, kvartil, linearita, malý výběr, management měření, medián, měřený
objekt, měřicí metoda, absolutní, diferenční, kompenzační, nepřímá, nulová,
přímá, relativní, substituční, transpoziční, výchylková, měřicí přístroj,
měřicí systém, měřicí transduktor, měřidla ověřená pracovní nestanovená
stanovená, stanovená, metoda Scheffého, Tukeyova, metr, metrolog, metrologická
konfirmace, metrologická spolehlivost etalonu, metrologické pracoviště,
metrologický pořádek, metrologie, aplikovaná, legální, obecná, podniková,
státní, teoretická, mezinárodní teplotní stupnice, míra nesoběstačná,
soběstačná, šikmosti, špičatosti, množství informace, model experimentu,
modus, mol, moment centrální, moment normovaný, moment obecný, MSA measurement
system analysis, náhodný proces, náhodný vliv, náhodný výběr, nařízení vlády,
návaznost, nejistota kombinovaná standardní měření rozšířená (celková) typu A
typu B, neshodná jednotka, nestrannost, neurčitost, norma ČSN, np-diagram,
obor přijetí, odezva, odlehlá hodnota, opakovatelnost, operátor, osvětlení,
ověřování následné prvotní, paradigmatický přístup, plánování, posuzování
shody výrobku, pragmatika, pravdivost, precisnost, predikční proměnná, proces
měření měřicí metrologické konfirmace výrobní, prokazování škody,
proměnlivost, protokol, průměr aritmetický geometrický harmonický kvadratický
podskupiny výběrový, přesnost, přetížitelnost etalonu, převodník, p-diagram,
regulace měřením, srovnáváním, statistická, regulační diagram měřením
srovnáváním, regulační mez, reprodukovatelnost, revize, rezortní předpis,
riziko chybějícího signálu zbytečného signálu, rozdělení alternativní (Bernoulliho),
beta, binomické, Cauchyho diskrétní, dvojitě exponenciální (Laplace),
exponenciální, F (Fisherovo-Snedecorovo), gama, geometrické, hypergeometrické,
Logaritmicko-normální, Maxwellovo, negativní binomické, normální (Laplace-Gaussovo),
normované normální, Paretovo, Poissonovo, Rayleighovo, rovnoměrné, diskrétní,
spojité, t (Studentovo), Wei, rozlišovací schopnost systému, rozpětí decilové
interkvartilové mezikvartilové percentilové, rozptyl, mezi třídami,
mezilaboratorní, opakovatelnosti, uvnitř tříd, vnitrolaboratorní, výběrový,
R&R měřidla, řád podnikové metrologie, sekunda, sémantika, shannon, shodnost,
síla testu, slovník, směrodatná odchylka opakovatelnosti reprodukovatelnosti,
správnost, stabilita, statistická regulace, statistika, strannost, středisko
kalibrační služby, střední hodnota, stupně volnosti, svítivost, syntaxe,
systém managementu kvality, systém managementu měření, systematický vliv,
technická způsobilost, technický požadavek, technický předpis, teorie
informace, teorie měření, teorie míry, teorie náhodných procesů, teorie
pravděpodobnosti, teplota absolutní, terminologie, termodynamická stupnice,
termodynamika, test Bartlettův Dixonův dvouvýběrový Grubbsův párový Shapiro-Wilksův
významnosti ±4s, testované kritérium, toleranční mez, třída přesnosti,
ukazatel výkonnosti způsobilosti Taguchiho, u-diagram, vada výrobku,
variabilita, dlouhodobá inherentní, krátkodobá, mezi podskupinami polohy
rozptylu systému uvnitř podskupin vnitroskupinovou 1. typu 2. typu, veličina
elektrická, fyzikální, náhodná, odvozená, technická, základní, vlhkost,
výběrová směrodatná odchylka, výběrový koeficient korelace r, výběrový soubor,
výrobce, výrobek, bezpečný, vyvážený neúplný blok, vzorkování, vztažná
podmínka, základní soubor, záměrný výběr, zkušební a kalibrační laboratoř,
znáhodněný blok, způsobilost měřicího přístroje měřidel
201007080115.7.2010LiteraturaBEN - technická literatura
|
SENSOR+TEST 2012 ... 22.-24.5.2012 - Norimberk, DEAUTOMATICA 2012 ... 22.-25.5.2012 - Mnichov, DE"ECOLOGY IN ELECTRONICS", WARSAW 2012 ... 28-29.05.2012 - Warszawa, PLICT Day - Bezpečnost kyberprostoru ... 29. května 2012 - Praha, CZPRAGOALARM / PRAGOSEC 2012 ... 5.-7.6.2012 - Praha, CZHaidy Pragosmart 2012 ... 5.-7.6.2012 - Praha, CZElektronický vývoj a výroba 2012 ... 12. června 2012 - Praha, CZIntersolar Europe 2012 ... 13.-15.6.2012 - Mnichov, DEELEKTRO 2012 - Moskva ... 13.-16.6.2012 - Moskva, RUIFA 2012 ... 31.8.-5.9.2012 - Berlin, DE
|